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오픈 플랫폼 측정제어 기업 내쇼날인스트루먼트(NI)의 연례 컨퍼런스 ‘NI위크’가 23일(현지시간) 미국 오스틴컨벤션센터에서 개막했다. 올해로 23회를 맞이한 NI위크는 NI 창립 41주년을 맞아 신임 최고경영자(CEO)의 전면등장과 함께 5세대(5G) 이동통신, 반도체 테스트, 산업용 사물인터넷(IIoT) 등 4차 산업혁명을 가속화시키는 다양한 신제품이 선보였다.

특히 NI는 5G에 많은 공을 들이는 모양새다. 지난해와 마찬가지로 협력 관계에 있는 AT&T 사례가 소개됐으며 보다 구체화된 실증작업 사례를 선보였다. 현재 5G는 세계 이동통신 표준화 기술협력기구(3rd Generation Partnership Project 3GPP)에서 NR(New Radio) 핵심 기술 개발이 한창이다.

5G NR 상용화를 실제로 가속화하려면 5G NR 3GPP 기술 사양을 준수하는 무선 구간(Over-the-Air, OTA) 시험 및 상호운용성 시험에 있어서도 지금보다 훨씬 더 많은 준비와 노력이 필요해서다. 3GPP에서 NSA(Non-Standalone) 기술안을 제시하면서 표준안 승인으로 완전한 SA(Standalone) 5G NR가 등장하기 이전의 표준도 마련됐다. 덕분에 5G 상용화가 1년 정도 앞당겨졌다.

NI는 AT&T와 함께 28GHz 밀리미터파(mmWave) 대역에서 매질, 그러니까 무선 구간(Over-the-Air, OTA) 시험 및 상호운용성 시험에 필요한 ‘채널 사운더’를 공개했다. 이 장비는 밀리미터파를 사용하는 5G 환경에서 송신(Tx)과 수신(Rx) 사이의 무선 구간의 특성을 실시간으로 파악할 수 있도록 했다.

간단하게 말해 밀리미터파와 같이 새롭게 사용하는 주파수 대역에서 어떤 현상이 발생하는지 미리 파악해야 5G를 상용화했을 때 즉각적인 대처가 가능해진다. 기존에는 이런 작업에 15분이 걸렸으나 신규 프로그래머블반도체(FPGA)를 장착한 NI 장비의 경우 0.15초면 충분하다.

◆고도화된 반도체 테스트 장비 소개=NI는 키노트에서 아나로그디바이스(ADI)와 함께 반도체 테스트가 보다 빨리 이뤄질 수 있도록 돕는 솔루션도 선보였다. STS(Semiconductor Test System)라 부르는 반도체 테스트 솔루션을 통해 기존 반도체 자동화 테스트 장비(Automated Test Equipment, ATE) 시장을 공략하려는 전략의 일환이다.

NI STS는 잡한 기능이 요구되는 무선(RF) 파워 앰프(Power Amplifier), 전력관리반도체(PMIC)와 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합하다. ADI 사례도 마찬가지 맥락으로 볼 수 있다. 복잡성이 높아진 반도체의 타임투마켓 대응이 어떻게 이뤄지고 있는지 소개한 것.

더불어 반도체 테스트에 필요한 각각의 장비를 따로 마련하지 않고도 NI를 통해 원스톱으로 구성할 수 있는 솔루션도 내놨다. 무정전전원공급장치(UPS), PXI(PCI eXtensions for Instrumentation) 기반 계측기, 스토리지 등의 요소를 소비자가 입맛에 맞는 구성으로 선택할 수 있도록 했다.

이 외에도 옵티멀플러스를 통해서는 NI 장비로 반도체 웨이퍼에서 발생하는 결점(Defect)을 그래픽으로 표현해 데이터베이스를 축적하고 궁극적으로 어디서부터 문제가 발생했는지, 수율(Yield)을 높이기 위한 사례도 소개했다.

한편 NI는 올해부터 공동 창립자인 제임스 트루차드 박사 대신에 알렉스 대번이 최고경영자(CEO)에 올라 NI위크를 진두지휘하고 있다. NI위크는 3200여명의 엔지니어와 과학자, 교수 및 NI 개발자가 참석하고 250개 이상의 기술 세션과 패널 토론, 전시가 동시에 진행된다.

<오스틴(미국)=이수환 기자>shulee@ddaily.co.kr