[전자부품 전문 미디어 인사이트세미콘]

“무어의 법칙은 변화하고 있으며 멀티코어 프로세싱, 고대역폭 데이터 입출력(I/O), 플랫폼 수준의 소프트웨어를 통해 과제를 해결해야 할 것” 루크 슈라이어<사진> 내쇼날인스트루먼트(NI) 자동화 테스트 제품 마케팅 총괄은 최근 기자와 만난 자리에서 이같이 말했다.

인텔 창업자 고든 무어가 만든 ‘무어의 법칙’은 반도체 성능이 2년마다 두 배 늘어난다는 것을 말한다. 하지만 최근에는 미세공정 개선의 어려움으로 지속이 쉽지 않다는 평가를 받고 있다. 반도체 업계에서는 한계극복을 위해 설계는 물론 재료에 이르기까지 다양한 방법을 동원하고 있다. 대표적인 것이 바로 ‘적층’이다. 고대역폭 메모리(High Bandwidth Memory, HBM)를 비롯해 CMOS 이미지센서(CIS), 애플리케이션프로세서(AP) 등 다양한 제품이 적층을 활용한 경우다.

미래에 선보일 반도체는 적층이 한층 더 고도화될 가능성이 높다. 유럽 최대 반도체 기술 연구소(IMEC)는 중앙처리장치(CPU(, 메모리, 컨트롤러, 각종 I/O가 하나의 칩에 적층될 것이라고 설명한 바 있다.

적층이 제대로 이뤄지려면 각 요소와의 원활한 통합은 필수다. NI는 3D-칩(IC)과 같은 적층 반도체의 테스트에 적합한 솔루션으로 시장을 공략하겠다는 게 핵심 골자다. 슈라이어 총괄은 “시스템 레벨에서의 테스트 전략을 잘 수립해야 할 것”이라며 “새로운 칩이나 테스트 방법이 나오면 즉각적으로 대응할 수 있도록 하자는 게 우리의 전략이며 플랫폼으로 접근하면 가격적인 메리트를 지속적으로 가져갈 수 있다”고 설명했다.

NI의 반도체 테스트 시스템(STS)은 어드반테스트나 ASE처럼 대규모보다는 상대적으로 소규모로 아날로그와 무선(RF)에 최적화된 것이 특징이다. NI라는 기업이 단순히 계측이나 테스트 제품만 제공하는 것이 아니라 PXI와 같은 인터페이스는 물론 랩뷰 등 소프트웨어, 그리고 이 모든 것을 아우르는 플랫폼을 확보했기 때문에 가능한 일이다.

슈라이어 총괄은 “(한마디로) 타임 투 마켓이다. 단일 모듈에서 24채널로 웨이퍼 레벨 테스트를 지원해 수많은 테스트 환경을 지원할 수 있다”며 “STS는 기술, 경제적, 비즈니스 문제가 복합적으로 존재하며 (고객사의 방향성이) 개별적으로 다르니 최대한 유연하게 제어권을 제공하려고 한다”고 말했다.

또한 그는 “(고객사가) 사용하고 있는 장비나 시스템이 개방형이 아닌 폐쇄형이면 근본적인 문제를 해결할 수 없다”며 “이 부분을 가장 큰 공략 포인트로 삼고 있으며 (NI 고유의) 플랫폼 전략으로 대응할 것”이라고 덧붙였다.

<이수환 기자>shulee@ddaily.co.kr